Kreiskott S., Arendt P.N., Foltyn S.R.(sfoltyn@lanl.gov), Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Dowden P.C.
Tsukamoto O., Shiokawa M., Ogawa J.(jun@tsukalab.dnj.yun.ac.jp), Ciszek M.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, ac losses, experimental results
Shiohara Y., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y.
Iijima Y., Kakimoto K.(kakimoto@rd.fujikura.co.jp), Saitoh T.
Iijima Y., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Yamada Y., Iwai H., Muroga T.(muroga@istec.or.jp), Saito T., Sugawara Y., Hirayama T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, IBAD process, PLD process, microstructure, experimental results, fabrication, magnetic properties
Li M., Ma B., Koritala R.E., Fisher B.L., Balachandran U.(balu@anl.gov), Dorris S.E., Miller D.J.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, ISD process, PLD process, microstructure, experimental results, fabrication, magnetic properties
Li M., Koritala R.E., Tsukui S., Goretta K.C., Adachi M., Baker J.E., Routbort J.L.(routbort@anl.gov)
Iijima Y., Nakamura Y., Saitoh T., Honjo T.(honjo@istec.or.jp), Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Shibata J., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp)
Varesi E., Petrisor T., Galluzzi V., Rufoloni A., Vannozzi A., Mancini A.(mancini@frascati.enea.it), Celentano G., Fabbri F., Rogai R., Boffa V.(vincenzo.boffa@pirelli.com), Gambardella U.(gamba@sa.infn.it)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, ISD process, buffer layers, microstructure, experimental results, fabrication, magnetic properties
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Arendt P.N., Foltyn S.R., Verebelyi D.T., Li X.(xli@amsuper.com), Jowett M., Holesinger T.G., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P.
Muroga T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y.(yyamada@istec.or.jp), Iwai H.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Shibata J., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp)
Iijima Y., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Watanabe T., Maeda T., Honjo T., Yamada Y., Saito T., Hirabayashi I., Takahashi Y.*(k920112@sntl.swcc.co.jp))
De Winter G.(griet.dewinter@rug.ac.be), Mahieu S.(stijin.mahieu@rug.ac.be), De Roeck I.(ilse.deroek@rug.ac.be), De Gryse R.(roger.degryse@rug.ac.be), Denul J.(jurgen.denul@bekaert.com)
Ключевые слова: coated conductors, buffer layers, substrate Hastelloy, HTS, REBCO, magnetron sputtering, microstructure
Koritala R.E., Fisher B.L., Markowitz A.R., Erck R.A., Dorris S.E., Miller D.J., Balachandran U., Meiya L., Beihai M.(bma@anl.gov)
Baldini A., Botarelli A., Gianni L., Zannella S., Bindi M.(bindi@maspec.bo.cnr.it), Gauzzi A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni-Fe, substrate Ni-W, substrate Hastelloy, thermal evaporation, microstructure, fabrication
Gnanarajan S.(Rajan.Gnanarajan@csiro.au)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.